Radiation Tolerance of 65nm CMOS Transistors

Krohn, M.; Bentele, B.; Cumalat, J. P.; Wagner, S. R.; Christian, D. C.; Deptuch, G.; Fahim, F.; Hoff, J.; Shenai, A.

doi:10.1088/1748-0221/10/12/P12007

arXiv 2015-01-23 DOI 10.1088/1748-0221/10/12/P12007 0 مشاهدة

Radiation Tolerance of 65nm CMOS Transistors

Krohn, M. · Bentele, B. · Cumalat, J. P. · Wagner, S. R. · Christian, D. C. · Deptuch, G. · Fahim, F. · Hoff, J. · Shenai, A.

Instrumentation and Detectors High Energy Physics - Experiment

الأصل · EN

We report on the effects of ionizing radiation on 65nm CMOS transistors held at approximately -20C during irradiation. The pattern of damage observed after a total dose of 1 Grad is similar to damage reported in room temperature exposures, but we observe less damage than was observed at room temperature.

الترجمة العربية

لا توجد ترجمة عربية لهذا البحث بعد. كن أوّل من يطلبها: تستغرق ثوانيَ معدودة، وتُحفظ النتيجة لكل قارئ قادم.

اقرأ على arXiv