المساق
arXiv 2001-03-28 DOI 10.1063/1.1463698 0 مشاهدة

Closely spaced and separately contacted 2d electron and 2d hole gases by in situ focussed ion implantation

Pohlt, M. · Lynass, M. · Lok, J. G. S. · Dietsche, W. · Klitzing, K. v. · Eberl, K. · Muhle, R.

الأصل · EN

Separately contacted double layers of a 2d electron - 2d hole gases have been prepared in GaAs separated by thin AlGaAs barriers with thicknesses down to 15 nm. The molecular-beam-epitaxial growth was interrupted just before the barrier in order to use in situ focussed-ion-beam implantation to pattern contacts which extend underneath the barrier. The two charge gases form upon biasing the p- and n-type contacts underneath and above the barrier in forward direction and show independent transistor-like behavior.

الترجمة العربية

لا توجد ترجمة عربية لهذا البحث بعد. كن أوّل من يطلبها: تستغرق ثوانيَ معدودة، وتُحفظ النتيجة لكل قارئ قادم.

تحقّق أمني

اكتب الأحرف الظاهرة أعلاه

حتى 10 ترجمات لكل شخص يومياً.